Přejít k obsahu


Another criteria for the grow of epitaxial pairs from RTG diffraction

Citace:
MEDLÍN, R. Another criteria for the grow of epitaxial pairs from RTG diffraction. In Proceedings of the 10th international workshop on Applied physics of condensed matter. Bratislava: Slovak University of Technology, 2004. s. 159-162. ISBN: 80-227-2073-9
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Another criteria for the grow of epitaxial pairs from RTG diffraction
Rok vydání: 2004
Místo konání: Bratislava
Název zdroje: Slovak University of Technology
Autoři: Rostislav Medlín
Abstrakt CZ: Statistická analýza Landolt-Bornsteinovy databáze epitaxiálních párů dokazuje, že strukturální uspořádání v rovině kolmé k rozhraní, pozorované pomocí RTG difrakce u epitaxiálních párů je mnohem silnější kritérium pro jejich strukturální návaznost než strukturální uspořádání v rovině rozhraní. Tento fakt je velmi zajímavý pro předpovídání síly epitaxiálního srůstu a pro jejich diagnostiku.
Abstrakt EN: Statistical analysis from Landolt-Bornstein database of epitaxial pairs proves that the structural accordance in the direction normal to the interface observe from the x-ray diffractograms of the epitaxial pair is much more strongest criteria for its structural coherency than the structural accordance in the plane of the interface. This fact is of great interest for the prediction of the strength of the epitaxial joints and for their diagnostics.
Klíčová slova

Zpět

Patička