Přejít k obsahu


Vyhodnocování analytických spekter

Citace:
NETRVALOVÁ, M., OČENÁŠEK, J. Vyhodnocování analytických spekter. 2010.
Druh: SOFTWARE
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Evaluation of analytic spectra
Rok vydání: 2010
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Ing. Marie Netrvalová , Ing. Jan Očenášek Ph.D.
Abstrakt CZ: Vytvořený software slouží k vyhodnocování analytických spekter - především získávání optických vlastností tenkých vrstev z měření na UV/Vis spektrofotometru. Je zde využita Swanepoelova metoda určování optických parametrů a tloušťky z měření propustnosti/odrazivosti vrstev. K dalšímu přiblížení byly použity fitovací disperzní vztahy s ohledem na zkoumaný materiál (Sellmeierovy, Cauchyho rovnice, Lorentzův klasický oscilační model nebo Forouhi-Bloomerův disperzní vztah).
Abstrakt EN: Developed software is a tool for analysis of analytical spectra, namely the identification of optical properties of thin films from the measurement on UV/Vis spectrometer. Applied methodology is based in the Swanepoel method of optical parameters and film thickness identification from the measurement of film transmittance or reflectance. According to tested material different dispersion model were applied (Sellmeier-Cauchy model, Lorentz oscillator model or Forouhi-Bloomer disperse relation).
Klíčová slova

Zpět

Patička