Přejít k obsahu


Analýza na řádkovacím a transmisním elektronovém mikroskopu na dodaných vzorcích

Citace:
KUČEROVÁ, L., DLOUHÝ, J. Analýza na řádkovacím a transmisním elektronovém mikroskopu na dodaných vzorcích. COMTES FHT a.s., 2017.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Analysis of delivered samples using scanning and scanning transmission electron microscopy
Rok vydání: 2017
Název zdroje: COMTES FHT a.s.
Autoři: Doc. Ing. Ludmila Kučerová Ph.D. , Ing. Jaromír Dlouhý
Abstrakt CZ: Na dodaných vzorcích různých kovových materiálů byly provedeny podrobné mikrostrukturní analýzy s využitím řádkovací elektronovém mikroskopie (SEM) a řádkovací transmisní elektronové mikroskopie (STEM). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní spektroskopii (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro přesnější identifikaci jemných fází byly pomocí iontového svazky připraveny tenké fólie pro následnou STEM analýzu.
Abstrakt EN: Delivered samples of various metals underwent detailed microstructure analysis using scanning electron microscopy (SEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM). Detectors of energy-dispersive spectroscopy (EDS) and electron back scattered diffraction analysis (EBSD) were used for characterisation of individual phases and structural components. Ion beam was utilized for preparation of thin foils for further STEM analysis which enabled more precise identification of fine phases.
Klíčová slova

Zpět

Patička