Přejít k obsahu


Materiálová analýza na ŘEM

Citace:
KUČEROVÁ, L., DLOUHÝ, J. Materiálová analýza na ŘEM. COMTES FHT a.s., 2017.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Material analysis by SEM
Rok vydání: 2017
Název zdroje: COMTES FHT a.s.
Autoři: Doc. Ing. Ludmila Kučerová Ph.D. , Ing. Jaromír Dlouhý
Abstrakt CZ: Na dodaných vzorcích více-fázových mikrostruktur byly provedeny metalografické analýzy s využitím řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a dvousvazkového mikroskopu kombinujícího elektronový a iontový svazek (FIB). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní analýzu (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro získání prostorové představy o rozložení fází bylo využito dvousvazkového mikroskopu a postupného odstraňování povrchové vrstvy pomocí FIB.
Abstrakt EN: Metallographic analysis was carried out at delivered multiphase microstructures using scanning electron microscope (SEM) and dual-beam microscope, which is combining electron and ion beam (FIB). Detectors of energy-dispersive analysis (EDS) and electron back scattered diffraction analysis (EBSD) were used for characterisation of individual phases and structural components. Ion beam was used for step by step removal of a thin surface layer of observed microstructure to produce better idea of spatial distribution of individual phases.
Klíčová slova

Zpět

Patička